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光學(xué)測試解決方案

發(fā)射器計(jì)數(shù)測試方案 | BJ-ECT-1 VCSEL

● 適用于VCSEL芯片點(diǎn)亮近場測試;

● 用于測量VCSEL激光器表面;

● 實(shí)驗(yàn)室測試/生產(chǎn)測試設(shè)備。


應(yīng)用范圍:

BJ-ECT-1設(shè)計(jì)用于測量VCSEL激光器表面,包括線均勻性、無功能發(fā)射器、飽和度、發(fā)射器尺寸等,用于VCSEL發(fā)射器計(jì)數(shù)測試;


可測試項(xiàng)目

● 單點(diǎn)激光的亮度、飽和度

● 統(tǒng)計(jì)異常激光點(diǎn)(過飽和或不點(diǎn)亮的單個(gè)激光點(diǎn))

● 光功率均勻性等

 

定制化需求:

● 光譜范圍800-1050nm;

● 可選用30至110dB的濾光片,覆蓋不同功率下的激光陣列的檢測;

● 配74Hz高幀率相機(jī),可檢測PWM模式下工作的激光陣列;




機(jī)械規(guī)格:

外觀尺寸500(L) * 650(W) * 600(H)mm
凈重約 75kg



光學(xué)規(guī)格:

相機(jī)分辨率2048 x 1536
系統(tǒng)精度均勻性 3%
主要功能均勻性;壞點(diǎn);計(jì)數(shù)




珠海博杰電子股份有限公司

測試及自動化專家