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光學(xué)測試解決方案

VCSEL器件的各項光電性能測試方案 | BJ-VCSEL140-1

● 主要用于測試VCSEL器件的各項光電性能;

● 光譜范圍:800-1100nm;半峰帶寬:3nm;波長準(zhǔn)確度:0.1nm;

● 溫控夾具控溫方式:TEC自動控溫,精度1℃(選配項);

● 可實現(xiàn)PD電流測量(選配項);

● 實驗室測試/生產(chǎn)測試設(shè)備。


應(yīng)用范圍:

BJ-VCSEL140-1設(shè)計用于測量VCSEL的光電性能,包括光功率,LIV曲線,峰值波長,半波幅寬,PD電流,視場角,能量分布,均勻性等。


機(jī)械規(guī)格:

外形尺寸1750(L) * 1000(W) * 2203(H)mm
凈重  約480kg



光學(xué)規(guī)格:

相機(jī)分辨率8192 x 5460
波長范圍800-1100nm
光學(xué)分辨率0.1nm
光功率計量程 10mW-100W
最大采樣頻率200KHz
投影屏均勻度≥95%



珠海博杰電子股份有限公司

測試及自動化專家